- Optische Messtechnik: (1) Interferometrie; Grundprinzip der Interferometrie, Messgenauigkeit und Auflösungsvermögen; Inter-ferometertypen; Abstands- und Geradheitsmessung, interferometrische Formprüfung (2) Holografische Interferometrie und Specklemesstechnik; Prinzip der holografischen Bildaufzeich-nung und Datenspeicherung; Doppelbelichtungs-, Zeitmittelungs- und Echtzeitverfahren; quantitative Auswertung von holografischen Interferogrammen; Beschreibung von Laserspeckles; Specklefotogra-fie; Speckleinterferometrie; (3) Triangulation und Lichtschnittmikroskopie; Grundprinzip; Scheimpflug-bedingung; Kennlinien und quantitative Auswertung; Schichtdickenmessung; (4) Ellipsometrie ; ellip-sometrische Grundgleichungen, Nullpunktsellipsometrie ; Fotometrische Ellipsometrie; (5) Doppler-messverfahren ; Anemometrie; Vibrometrie; (6) Optische Spektroskopie; optische Spektralinien und Struktur; Vergleich von cw- und FT-Spektroskopie; Raman-Spektroskopie; CARS und BOXCARS; zeitaufgelöste Laserspektroskopie; (7) Konfokale Mikroskopie und Laserscanning-Mikroskopie - Spektroskopie und spezielle Messmethoden: (1) Spektroskopie mit elektromagnetischer Strahlung variabler Wellenlänge: Überblick zur Spektrosko-pie amorpher und kristalliner Festkörper, NMR- und ESR-Spektroskopie, Infrarot-Fourier-Transform-Spektroskopie, Mößbauer-Spektroskopie, Methoden zur Bestimmung der Struktur und Dynamik von Festkörpern: Spektroskopie an Festkörper-Oberflächen, Dielektrische Spektroskopie, Neutronenstreu-ung, Mechanische Festkörperspektroskopie; (2) Ausgewählte spezielle Messmethoden: Grundlagen und Anwendung der LockIn-Messtechnik, Supraleitung, Josephson-Effekte und Supraleitende Quan-teninterferometer - Praktikum: Räumliche und zeitliche Kohärenz; Michelson-FT-Spektrometer; Fourieroptik; Polarisation durch Reflexion und ellipsometrische Winkel; Lichtschnittmikroskopie; Triangulation; ESP